Код товара: 5188139291
Постоплата
Купон на скидку
Помощь фондам
Test Vector Reordering Method for Low Power Testing
Тип книги:
Печать по требованию
О товаре
Перейти к описанию
Автор на обложке
K. Paramasivam; K. Gunavathi
Год выпуска
2026
Тип бумаги в книге
Офсетная
Тип обложки
Мягкая обложка
Тип книги
Печать по требованию
О книге
Печатная книга «Test Vector Reordering Method for Low Power Testing» в мягкой обложке, язык - английский. В книге 76 страниц, она напечатана на белой офсетной бумаге плотностью 80 г/м². Формат издани
1 190 ₽ 1 948 ₽
Магазин
3.6 K подписчиков
Т8
Перейти
4.9
Чат
Заказы
63.9 K
Помощь фондам
О магазине
Часто задаваемые вопросы
Описание
Test Vector Reordering Method for Low Power TestingПечатная книга «Test Vector Reordering Method for Low Power Testing» в мягкой обложке, язык - английский. В книге 76 страниц, она напечатана на белой офсетной бумаге плотностью 80 г/м². Формат издания — 152x229 мм. Все книги аккуратно упаковываем в прочный трёхслойный непрозрачный картонный конверт.
The book investigates test vector reordering algorithm for minimizing the power dissipation during testing of VLSI circuits. Testing plays a key role in design flow and is the major challenging task for design and test engineers. Power dissipation is critical problem during testing phase. The test vectors generated from Automatic Test Pattern Generator used for testing are statistically independent which leads to more power dissipation. The testing power can be reduced by reordering the sequence of test vectors. The reordering algorithm is developed using the graph theory with heuristic concept to find more sub-optimal solutions. Five functional metrics such as Cosine, Hamming, Mahalanobis, Minkowski and Seuclidean are considered for reordering the test vectors. Don't care replacement method is also proposed for reordered test set to reduce further the transitions in the CUT. Both the methods are implemented and simulated in ISCAS85 benchmark circuits to evaluate the transitions and average power. The results show that transitions and average power are reduced considerably for functions other than hamming distance when compared with unordered test set and existing methods.
The book investigates test vector reordering algorithm for minimizing the power dissipation during testing of VLSI circuits. Testing plays a key role in design flow and is the major challenging task for design and test engineers. Power dissipation is critical problem during testing phase. The test vectors generated from Automatic Test Pattern Generator used for testing are statistically independent which leads to more power dissipation. The testing power can be reduced by reordering the sequence of test vectors. The reordering algorithm is developed using the graph theory with heuristic concept to find more sub-optimal solutions. Five functional metrics such as Cosine, Hamming, Mahalanobis, Minkowski and Seuclidean are considered for reordering the test vectors. Don't care replacement method is also proposed for reordered test set to reduce further the transitions in the CUT. Both the methods are implemented and simulated in ISCAS85 benchmark circuits to evaluate the transitions and average power. The results show that transitions and average power are reduced considerably for functions other than hamming distance when compared with unordered test set and existing methods.
- Артикул
- 5188139291
- Автор на обложке
- K. Paramasivam; K. Gunavathi
- Год выпуска
- 2026
- Тип бумаги в книге
- Офсетная
- Тип обложки
- Мягкая обложка
- Тип книги
- Печать по требованию
- Язык издания
- Английский
- Количество страниц
- 76
- Размеры, мм
- 152x229
- Вес товара, г
- 136
- ISBN
- 9783659180767
- Возрастные ограничения
- 12+
Подборки товаров в категории Учебники для абитуриентов, студентов и аспирантов
Отзывы о товаре
0
Test Vector Reordering Method for Low Power Testing
Рейтинга пока нет. Он формируется на основе актуальных отзывов на заказанные и оплаченные товары
Как правильно задавать вопросы?
Будьте вежливы и спрашивайте о товаре, на карточке которого вы находитесь
Если вы обнаружили ошибку в описанием товара, воспользуйтесь функцией
Как отвечать на вопросы?
Отвечать на вопросы могут клиенты, купившие товар, и официальные представители.
Выбрать «Лучший ответ» может только автор вопроса, если именно этот ответ ему помог.